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探討原子力顯微鏡與細(xì)胞固定技術(shù)
點(diǎn)擊次數(shù):1256 更新時(shí)間:2023-01-12
原子力顯微鏡是一種以檢測(cè)探針與樣品間相互作用為特征的掃描力顯微鏡,主要有附有針尖的微懸臂、壓電掃描器、激光與光電檢測(cè)器及反饋控制系統(tǒng)等構(gòu)成。力敏感彈性微懸臂一端固定,另一端附有一微小的針尖,當(dāng)針尖對(duì)固定在壓電掃描器上的樣品進(jìn)行掃描時(shí),隨距離變化的針尖-樣品間相互作用力會(huì)引起微懸臂變形,由激光源發(fā)出的一束激光照射到微懸臂的背面,并被反射到光電檢測(cè)器上,通過(guò)反饋控制系統(tǒng)即可記錄樣品的表面形貌或樣品-針尖間作用力等方面的信息,隨著原子力顯微鏡技術(shù)的迅猛發(fā)展,它在細(xì)菌吸附研究中的應(yīng)用日趨廣泛,主要包括測(cè)定細(xì)菌表面形貌以及細(xì)菌與固相表面間的作用力。
原子力顯微鏡在研究細(xì)菌吸附時(shí),使用了多種固定細(xì)菌細(xì)胞的方法。根據(jù)細(xì)菌固定的位置,可將固定方法分為兩類:一是細(xì)胞固定在支持物上,探針可以是氮化硅或硅探針,抑或是膠結(jié)有微米尺寸珠子的微懸臂,由于制作均質(zhì)性探針受到材料的限制,因此研究細(xì)菌與不同固相界面間的相互作用也將受到制約;二是細(xì)胞固定在探針上,即細(xì)胞探針,此種固定方法彌補(bǔ)了前面一種方法的不足,可用于探究細(xì)胞探針與任何感興趣的固相表面間的相互作用,但該技術(shù)的缺陷是細(xì)胞探針表面較大,成像的分辨率低,力測(cè)定值是探針與研究表面間微米水平接觸區(qū)域的力效應(yīng)的平均值,且很難獲得準(zhǔn)確的探針半徑及細(xì)胞或胞外大分子的取向。另外,兩類細(xì)胞固定技術(shù)都需要保持細(xì)胞的自然狀態(tài),且細(xì)胞固定力大于細(xì)胞與界面間作用力。